雙折射（應力）測量系統-Exicor® 150AT       Hinds 儀器的Exicor雙折射測量系統型號150AT是Exicor®雙折射測量系統系列產(chǎn)品的工作平臺。 該系統具有足夠的多功能性，在生產(chǎn)車(chē)間和研發(fā)實(shí)驗室環(huán)境中均可勝任。 該模型廣泛用于研究和工業(yè)中測量組件; 如光掩膜和光刻膠、DVD空白、塑料薄膜、透鏡毛坯、激光晶體、手機顯示窗、注塑件等等。 臺式設計和直觀(guān)的自動(dòng)掃描軟件使該產(chǎn)品成為高價(jià)值光學(xué)元件和商品光學(xué)元件（高達150mm X 150mm）的日常評估的選擇。   靈敏度和重復性 使用Hinds儀器專(zhuān)利光彈性調制器(PEM)技術(shù)，該系統提供高水平雙折射靈敏度。此外，PEM提供高速操作，以50千赫的速率進(jìn)行調制。靈敏度和重復性很容易提供亞納米級的雙折射測量，對許多應用至關(guān)重要。   專(zhuān)為簡(jiǎn)單、直接的操作而設計 一個(gè)大至6“x 6”（可選大尺寸）的光學(xué)樣品可以通過(guò)手動(dòng)或自動(dòng)映射和圖形顯示進(jìn)行表征。 一旦將樣本放置在翻譯階段，直觀(guān)的軟件就可以指導操作員完成步驟測量過(guò)程。 用戶(hù)界面軟件計算延遲值和快軸角度，并以各種格式顯示它們。 該軟件還提供文件管理和校準功能。   應用   質(zhì)量控制計量低水平雙折射測量的有 平滑玻璃 科學(xué)光學(xué)元件  激光晶體 DVDs 光刻組件的質(zhì)量驗證，包括 光掩模  熔石英光學(xué)元件  氟化鈣鏡片毛坯和窗口   主要特點(diǎn) 在低水平雙折射測量中具有同時(shí)測量雙折射幅度和角度準確度可重復性高速測量光學(xué)系統中無(wú)移動(dòng)部件 可變尺寸光學(xué)元件的自動(dòng)映 光彈調制器技術(shù) 簡(jiǎn)單、便于用戶(hù)使用的操作   Exicor 150AT測量通過(guò)正在研究的光學(xué)樣品的光路上的延遲。它旨在測量和顯示樣品光學(xué)延遲的幅度和快軸取向。獨特的設計（專(zhuān)利申請中）消除了光學(xué)系統中的移動(dòng)部件，并避免了在測量角度之間切換的必要性。氦氖激光束被偏振然后由PEM調制。調制后的光束透過(guò)樣品并由分光鏡分開(kāi)。每束光束通過(guò)分析儀、光學(xué)濾光片和光電探測器的組合。電子信號通過(guò)一個(gè)鎖定放大器處理，提供非常低的信號檢測。由Hinds 儀器公司開(kāi)發(fā)的軟件算法將來(lái)自電子模塊的信號電平轉換為可以確定線(xiàn)性雙折射的參數。計算機從兩個(gè)輸入中選擇，允許從兩個(gè)信號通道進(jìn)行連續測量。分析數據，然后顯示延遲大小和軸角度并存儲在文件中。當在自動(dòng)映射模式下操作時(shí)，x-y平移階段將把樣本移動(dòng)到下一個(gè)預定的測量位置。結果以用戶(hù)確定的格式即時(shí)顯示。