PHL應力雙折射儀器PHL PA-200大相位差應力雙折射儀PHL應力雙折射儀器簡介：雙折射（www.oelectron.com)應力雙折射儀，能夠快速、精準測量雙折射相位差及其空間分布和方向。廣泛應用于玻璃、晶體、聚合物薄膜、鏡片、晶片等質(zhì)量分析和控制領域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本東北大學的光子晶體的研究技術為核心，成立的合資公司，尤其是其光子晶體制造技術世界，并由此開發(fā)出的測量儀器。PHL顯微鏡下的雙折射測量 WPA-100-MICRO匹配顯微鏡測量雙折射測量光學薄膜、鋼化玻璃、有機晶體薄膜、金屬晶體、不透明基板等材料在顯微鏡視場下評估和管理雙折射分布PHL應力雙折射儀器參數(shù)：型號WPA-Micro測量范圍0-4000nm重復性<1.0nm像素數(shù)384x288測量波長523nm,543nm,575nm尺寸250x487x690.0mm觀測到的較大面積5倍物鏡：1.1x0.8mm;10倍物鏡：0.5x0.4mm；20倍物鏡：270x200um;50倍物鏡：110x80um;100倍物鏡：55x40um.自身重量11kg數(shù)據(jù)接口GigE（攝像機信號）   RS232C（電機控制）電壓電流AC100-240V（50/60Hz）軟件WPA-View（for Micro）